测量系统分析(MSA)方法 - 论坛首页 电源网

杭州永磁集团有限公司企业标准 测量系统分析(MSA)方法 Q/HC31007A—2002 1.目的 对测量系统变差进行分析评估，以确定测量系统是否满足规定的要求，确保测量数据的质量。 2.范围 适用于本公司用以证实产品符合规定要求的所有测量系统分析管理。 3.职责 3.1质管部负责测量系统分析的归口管理; 3.2公司计量室负责每年对公司在用测量系统进行一次全面的分析; 3.3各分公司(分厂)质检科负责新产品开发时测量系统分析的具体实施。 4.术语解释 4.1测量系统(Measurement system)：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备以及操作人员的集合，用来获得测量结果的整个过程。 4.2偏倚(Bias):指测量结果的观测平均值与基准值的差值。 4.3稳定性(Stability):指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量平均值总变差,即偏倚随时间的增量。 4.4重复性：重复性（Repeatability）是指由同一位检验员,采用同一量具,多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量值的变差。 4.5再现性: 再现性(Reproductivity) 是指由不同检验员用同一量具，多次测量同一产品的同一质量特性时获得的测量平均值的变差。 4.6分辨率（Resolution）:测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力。 4.7可视分辨率（Apparent Resolution）:测量仪器的最小增量的大小,如卡尺的可视分辨率为0.02mm。 4.8有效分辨率（Effective Resolution）:考虑整个测量系统变差时的数据等级大小。用测量系统变差的置信区间长度将制造过程变差（6δ）（或公差）划分的等级数量来表示。关于 有效分辨率，在99%置信水平时其标准估计值为1.41PV/GR&R。 4.9分辨力(Discrimination):对于单个读数系统,它是可视和有效分辨率中较差的。 杭州永磁集团有限公司2002-6-8批准 2002-6-10实施 Q/HC31007A—2002 4.10盲测:指在实际测量环境中,检验员事先不知正在对该测量系统进行分析，也不知道所测为那一只产品的条件下,获得的测量结果。 4.11计量型与计数型测量系统:测量系统测量结果可用具体的连续的数值来表述,这样的测量系统称之为计量型测量系统; 测量系统测量结果用定性的数据来表述,如用通过或不能通过塞规的方式来描述一只圆棒直径尺寸,这样的测量系统称之为计数型测量系统。计量型测量系统和计数型测量系统的分析将用到不同的方法。 5.工作程序： 5.1测量系统分析时机：在下述三种情况下必须进行测量系统分析。 5.1.1 新产品开发时; 5.1.2检验员发生变更或新购量具或经维修过的量具投入使用前; 5.1.3 定期做,公司规定每年进行一次全面的测量系统分析,分析范围覆盖所有合格在用的不同型号规格的量具,分析内容覆盖测量系统五性。 5.2测量系统分析条件 5.2.1测量作业必须标准化; 5.2.2检验员必须是经培训合格人员; 5.2.3测量仪器必须是检定合格状态; 5.2.4质量特性测量值可重复。 5.3计量型测量系统分析 5.3.1 稳定性分析 5.3.1.1选取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值，如果不能得到，则选择一个落在使用的量程中程数的产品，并指定它作为标准样本进行稳定性分析。 5.3.1.2定期（天，周，月）测量基准样品3-5次，决定样本容量和频率时考虑的因素有：校准周期、使用频率、修理次数和使用环境等。读数应在不同时间读取以代表测量系统实际使用的情况。 5.3.1.3将测量值描绘在《量具稳定性分析报告》记录的XBAR-R控制图上。 5.3.1.4计算控制界限,并参照Q/HC31006A—2002《SPC（统计过程控制）应用方法》控制图判读规则对不稳定或失控作出判断，如有不稳或异常现象应进行原因分析，并采取相应措施（如对量具进行校准或维修）。 5.3.1.5测量系统稳定性分析记录于《量具稳定性分析报告》中。 Q/HC31007A—2002 5.3.2偏倚分析(独立样本法) 5.3.2.1获取一个样本并确定其相对于可追溯标准的基准值, 如果不能得到，则选择一个落在使用的量程中程数的产品，并对其用精密的量具(通常精度为被分析量具的4~10倍)测量10次计算平均值,此值作为“基准值”。 5.3.2.2由一位检验员,以常规方式对样品测量10次,并计算10次读数的平均值, 此值即为“观测平均值”。 5.3.2.3计算偏倚 偏倚=观测平均值--基准值 制造过程变差=6δ 偏倚%=偏倚/制造过程变差×100% 制造过程变差可从以前的过程控制图得出，或从同时进行的过程能力研究得出，如无法求得时,可用规格公差代替。 5.3.2.4偏倚接受准则: 对测量重要特性的测量系统偏倚%10%时可接受； 对测量一般特性的测量系统10%≤偏倚%≤30%时可接受； 偏倚%>30%,拒绝接受。 5.3.2.5偏倚分析记录于《量具偏倚分析报告》 5.3.3线性分析 5.3.3.1选择5个产品,它们的测量值要覆盖量具的工作量程。 5.3.3.2用精密量具测量每个产品以确定它们各自的“基准值”并确认其尺寸覆盖了被分析量具的工作量程。 5.3.3.3由被分析量具的操作员盲测每个产品12次,并计算测量平均值和偏倚。 5.3.3.4绘图：以基准值为X轴,偏倚为Y轴作散布图。 5.3.3.5使用以下公式求最佳拟合这些点的回归直线和直线的相关系数R。 y=b+ax 式中：x为基准值 y为偏倚 b为截距 a为斜率 a=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]/[ ΣXi2-(ΣXi)2/n] b=(ΣYi-aΣXi)/n R2=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]2/｛[ΣXi2 -(ΣXi)2/n]×[ΣYi2-(ΣYi)2/n]｝ 线性= 斜率 ×（制造过程变差）= Q/HC31007A—2002 线性%=[线性/制造过程变差] ×100% 5.3.3.6线性判读准则 5.3.3.6.1线性程度判读 R2=1,完全相关,点散布在一条直线上; R2=0,完全不相关,X与Y的变化完全不存在任何依存关系; 010%,拒绝接受。 5.3.3.7线性分析记录于《量具线性分析报告》。 5.3.4重复性和再现性分析(R &R) 确定研究对象、工序、量具、产品和质量特性后可采用下列方法进行分析。 5.3.4.1极差(R)法 5.3.4.1.1选取两位检验员A、B和5个产品,每个检验员对每个产品盲测一次,将测量结果记入《量具极差法分析表》表格中。 5.3.4.1.2计算产品测量的极差R,测量极差R为检验员A和B测量结果差的绝对值。 5.3.4.1.3计算产品测量的平均极差R=∑Ri/5。 5.3.4.1.4计算量具的双性(重复性和再现性的合成,简称双性),即测量过程变差： GR&R=5.15R/d2 式中：GR&R表示量具（Gage）重复性和再现性的合成，5.15表示99%的置信区间，即2个检验员用同一量具测量同一产品的同一特性的测量结果99%落在GR&R区间内，d2可从《测量系统分析用d2值表》中查出。 5.3.4.1.5计算双性占制造过程变差的百分数 % GR&R= (GR&R/过程变差) ×100%。 5.3.4.1.6% GR&R接受准则: a、% GR&R<10%可接受； b、10%≤% GR&R≤30%，依据质量特性的重要性及量具的重要性、成本及维修费用，决定是否接受； c、% GR&R>30%，不能接受。 Q/HC31007A—2002 5.3.4.2均值极差法(X&R法) 5.3.4.2